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一、標準概述
IEC 60068-2-1 是國際電工委員會(IEC)發(fā)布的環(huán)境試驗系列標準之一,專門用于低溫試驗。該標準第六版于2007年發(fā)布,取代了之前的版本,并整合了之前的修訂內(nèi)容。其目的是評估電工電子產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的耐受能力,包括使用、運輸和儲存過程中的性能表現(xiàn)。
二、適用范圍
該標準適用于各類電工電子產(chǎn)品、組件或設(shè)備,包括:
不散熱試樣(如被動元件、結(jié)構(gòu)件);
散熱試樣(如通電工作的電子設(shè)備)。
標準中明確了三種不同類型的低溫試驗:
Test Ab:適用于不散熱試樣,溫度漸變;
Test Ad:適用于散熱試樣,溫度漸變,初始穩(wěn)定后通電;
Test Ae:適用于散熱試樣,全程通電運行。
?? 注意:該標準不適用于評估樣品在溫度變化過程中的耐受能力(此類試驗應(yīng)參考IEC 60068-2-14)。
三、試驗條件:所需儀器
進行低溫試驗需要以下設(shè)備:
試驗箱需符合IEC 60068-3-5和IEC 60068-3-7的性能驗證要求。
四、恢復(fù)條件
試驗結(jié)束后,樣品需進行恢復(fù)處理,以確保其回到穩(wěn)定狀態(tài):
溫度應(yīng)逐漸回升至標準大氣條件(通常為+15°C至+35°C);
回升速率不超過1 K/分鐘;
恢復(fù)時間至少1小時,或直至溫度穩(wěn)定;
可輕輕去除表面冷凝水,但不允許損壞樣品;
若有必要,可在恢復(fù)期間進行通電或功能檢測。
五、試驗過程與要求
1. 預(yù)處理
根據(jù)產(chǎn)品規(guī)范決定是否需要進行預(yù)處理。
2. 初始檢測
包括外觀檢查和功能測試,記錄初始狀態(tài)。
3. 試驗階段
將樣品放入試驗箱(箱內(nèi)初始溫度為實驗室溫度);
以不超過1 K/分鐘的速度降溫至目標溫度;
保持目標溫度至規(guī)定時間(如2h、16h、72h等);
必要時在低溫下進行功能測試。
4. 中間檢測(可選)
若需在試驗過程中檢測性能,應(yīng)在不取出樣品的情況下進行。
5. 最終升溫與恢復(fù)
除Test Ae外,其他試驗應(yīng)在升溫前斷電;
升溫速率同樣不超過1 K/分鐘;
進行恢復(fù)處理。
6. 最終檢測
恢復(fù)后進行外觀和功能檢查,判斷是否通過試驗。
六、設(shè)備要求
試驗箱工作空間應(yīng)能容納樣品,且溫度分布均勻;
空氣流速需根據(jù)試樣類型選擇:
高風速(推薦用于不散熱試樣);
低風速(用于散熱試樣,避免過度冷卻);
熱輻射影響應(yīng)最小化,避免箱壁溫度與空氣溫度差異過大;
若樣品帶有人工冷卻系統(tǒng)(如風冷、液冷),需確保冷卻介質(zhì)符合規(guī)范。
七、其他注意事項
包裝試驗:若模擬運輸或儲存狀態(tài),可帶包裝進行試驗,但最終需達到溫度穩(wěn)定;
風速確認:試驗前需確認試驗箱風速類型(高/低),方法見標準第4.2條;
記錄要求:試驗報告需詳細記錄所有操作、測量數(shù)據(jù)、設(shè)備信息和觀察結(jié)果;
偏差說明:若因故無法完全遵循標準,需在報告中說明并與客戶協(xié)商一致。
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